分析技術

FTIRや顕微IRを用いた異物分析のノウハウを基礎から丁寧に説明！前処理や測定のちょっとしたコツできれいなスペクトルを得る方法を解説！

FTIRと顕微ラマンの基礎と異物分析を中心とした測定・解析事例

日時：2012年2月21日（火） 12：30～16：30

【講座のポイント】

・FTIRや顕微IRを用いた異物分析のノウハウを基礎から丁寧に説明。
・前処理や測定のちょっとしたコツできれいなスペクトルを得る方法を解説。
・さらにラマン分光法の特長を活かした、異物を中心とした分析テクニックの基礎から応用編までを紹介。
 

【プログラム】

１．赤外分光法の基礎とスペクトルの解析法

　　1-1．赤外分光法の基礎
　　1-2．スペクトルの解析法の基礎
　　1-3．検索プログラムを利用した解析法

２．FTIRの原理

　　2-1．FTIRの装置の原理
　　2-2．波数拡張に関する手法

３．各種測定法の原理とその応用

　　3-1．透過測定の原理と測定テクニック
　　3-2．ATRを中心とした反射測定の原理と測定テクニック
　　3-3．最適な付属品の選択方法

４．データ解析方法

　　4-1．各種データ処理方法
　　4-2．多変量解析を用いた測定事例

５．顕微FTIR

　　5-1．顕微FTIRの原理
　　5-2．顕微FTIRの付属品を含めた測定
　　5-3．クオリティの高いデータ取得のための前処理、測定、解析
　　5-4．赤外イメージングと異物分析を中心とした測定例

６．顕微ラマン分光法

　　6-1．ラマンの基礎
　　6-2．ラマンとIRの違い
　　6-3．サンプル目的別、最適励起波長の選択法
　　6-4．ラマンイメージングと異物分析を中心とした分析事例

【質疑応答・名刺交換・個別相談】

有機材料の精密構造解析や超高感度固体高分解能NMRによる材料表面の構造解析について詳述！

固体NMRによる有機材料の精密構造解析及びその表面構造解析への応用

日時：2012年2月7日（火）　12：30～16：30

自動および外観検査それぞれのポイントや限度見本の作成法を学び、製品の信頼性向上を実現せよ！

自動外観検査・目視検査技術と運用

日時：2011年12月1日（木）　10:30～17:30

【受講対象者】

【予備知識】

【修得知識】

・検査装置開発の入門知識や検査装置導入の予備知識、検査運営の基礎知識など

【講師の言葉】

　　外観検査の為の要素技術および運用方法について入門者に向けた解説を行います。品質管理の為の外観検査の概要について述べた後、外観検査のための照明・撮像技術や画像処理技術について解説します。目視検査における規格や限度見本の作成等について述べた後、事例紹介等によって実際の運用におけるノウハウを説明します。
　自動外観検査と目視外観検査それぞれのためのポイントやそれぞれの得手不得手、両者の役割分担についても説明します。

【プログラム】

I． 外観検査の概要

　　1．検査・計測と品質管理・品質保証
　　2．外観検査とは？　目的と効果
　　3．自動検査と目視検査の違い、 それぞれの得手不得手
　　4．外観検査の種別
　　5．外観検査では出来ないこと

Ⅱ． 外観検査自動化のための画像処理技術

　　1．画像処理応用システムの概要
　　2．色覚・視覚
　　3．人の視覚から学ぶ外観検査のロジックとアルゴリズム
　　4．照明・撮像技術
　　5．画像前処理技術
　　6．特徴抽出と判別認識

Ⅲ． 目視検査の課題と対策

　　1．目視検査の規格
　　2．検査員の選出
　　3．外部条件の安定化
　　4．限度見本の作成

Ⅳ． 実際のシステムと運用ノウハウ

　　1．自動外観検査機材と利用ノウハウ
　　2．品質管理担当と画像技術担当の意志疎通
　　3．検査基準の設定方法とその手順
　　4．限度見本と評価尺度の設定
　　5．機器の校正と不確かさの評価
　　6．自動検査と目視検査の役割分担
　　7．検査結果の効果的活用、結果のフィードバック

V． 質疑応答

分析スキルの高い人達が多く集まる組織は必ず発展していく！「なぜなぜ分析手法」を使って、愚直に分析ができる「分析スキルの高い人材」を育成する！

効率的な真因追求のための「なぜなぜ分析」の進め方

日時：2011年10月19日（水）　10：00～17：00

【講座のポイント】

　クレーム、工程内不良、チョコ停、故障などの多くの技術的な問題、あるいは「不良が減らない」「人が育たない」「利益が出ない」と言ったソフト的な問題がなかなか解決しない理由は、それらの問題の「真因」を正しくつかむことができていないことが原因と推察されます。
　ではなぜ真因を正しくつかむことができないのであろうか。それは「分析」の進め方に問題のある場合が多いと言えます。すなわち“○○であろうから、××という対策をする”といった、頭の中で原因を推定する行動からなかなか脱却できないでいるからです。 
 
　昔から分析の基本は、“頭で考えるのではなく、眼で考える”と言われております。そのことが、経済の発展に伴う合理主義社会において疎かになっていると推察します。どんな課題でも、分析には「愚直さ」が要求されます。愚直に正しく分析がなされれば「真因」は向こうから見えてくるものと考えていただきたい。逆に言えば「見えるまで見る」という行動に執着することがポイントです。 
 
　当セミナーは「なぜなぜ分析手法」を使って、愚直に分析ができる「分析スキルの高い人材」の育成をねらいとしております。
　「分析スキル」は文化です。分析スキルの高い人達が多く集まる組織は必ず発展すると確信していますので、そのための一助になればと考えてこのセミナーを企画しました。
 

【受講対象者】

　特に問いません。事例は出席者の業種・職種に合わせます。
 

【プログラム】

第１章　分析の基本と基本的な分析手法

第２章　効率的な真因追求のための「なぜなぜ分析」の進め方【技術的問題編】

第３章　効率的な真因追求のための「なぜなぜ分析」の進め方【ソフト課題編】

※総合質疑応答（～17：00）

※休憩は適宜入れます。

【質疑応答・名刺交換・個別相談】

IR分析はあらゆる材料分析に適用できる広範で情報量の多い高度な分析機器である。機械検索の袋小路を解決する知識経験をお伝えして、品質管理や材料分析／解析での多くの事例を紹介しながら、IRスペクトル分析の有用性を解説！

FT-IR・GC/MSによる異物分析と製品主材料・添加剤分析

　　　　　　　　～測定実務のコツとスペクトル解析ノウハウ～

日時：2011年12月14日（水）　10：30～16：30

＜講座のポイント＞

　IRスペクトルの機械検索では純物質しか同定できず、実務解析でのお手上げ状態を前進させるノウハウを伝える。

＜受講対象者・レベル＞

　実務としてIR分析を手がけている、あるいはIR分析の理解を目指している方。

＜プログラム＞

第１部　異物の種類と原因物質および測定試料の前処理に関わる材料物性の理解

　　1-1　異物の種類

　　1-2　異物の発生原因物質

　　1-3　異物は工業化成品そのものである

　　1-4　合成樹脂（プラスチックス）

　　1-5　プラスチック材料用添加剤

　　1-6　明瞭なIRスペクトルのための前処理技術

　　1-7　プラスチック材料と溶剤類の極性物性の理解と利用

　　1-8　IRスペクトルは異物／工業材料の何を解き明かしてくれるのか？

第２部　異物分析・材料分析の測定法とそのコツ

　　2-1　IR分析の特徴、豊富な各種付属装置の原理

　　2-2　付属装置の状況ごとの選択と使用法

　　2-3　IR測定装置と付属装置の測定限界と測定を妨害する光学歪み要因とその回避

　　2-4　正しいスペクトルを得るには？

　　2-5　IR分析を補足する他の分析情報

第３部　混入異物・不純物へのクロマト利用分析支援とその理解

　　3-1　クロマトグラフ分離の基礎

　　3-2　カラム固定相選択

　　3-3　異物成分分別のための各種クロマトグラフイーの理解と応用

　　3-4　GC分析で現れる化合物種ごとの特性

　　3-5　リテンションインデックスの利用

　　3-6　GC/MS成分分析とマススペクトル解析

第４部　IR分析のデータ処理、スペクトル解析、同定へのノウハウ

　　4-1　測定スペクトルのABS（吸光度）表示に慣れよう

　　4-2　スペクトル品質の改善のためのデータ処理

　　　　 スムージング、ベースライン補正、フィルライン、ATR補正、K-M変換、K-K変換

　　4-3　混合成分の同定を助ける差スペクトル法データ処理

　　　　 差スペクトル演算

　　4-4　補助ベースライン法による成分定量法

　　4-5　混合物解析における成分加成性原理

　　4-6　混合成分解析の実務、成分構造解析と組成定量

　　4-7　スペクトル解析法-1

　　　　 官能基テーブルとコルサップ表類を利用するスペクトル解析

　　4-8　スペクトル解析法-2

　　　　 IRスペクトル市販ライブラリー紹介と検索的中効率の向上手法

　　4-9　IRスペクトル法での困難さを解決する手法ガイド-1

　　　　 パターン類似物の識別

　　4-10 IRスペクトル法での困難さを解決する手法ガイド-2

　　　　 差スペクトル演算と逐次検索手法のポイント

　　4-11　プラスチック材料とエンプラのIRスペクトル判別

　　4-12　異物のIRスペクトル解析事例

【質疑応答・名刺交換】

異物の発生原因や測定手段、微小物のサンプリング、前処理法等の異物分析デザインを構築することに主を置き、品質管理や異物分析を担当されている方々を対象に、ＦＴ－ＩＲを用いた異物分析事例をできる限り取り入れて説明を行う！

事例で分かりやすく解説！微小異物特定のための分析手法

日時：2011年8月29日（月）　10：30～16：30

講座の内容

【講座のポイント】

　ＰＬ法施行後、安全性や品質保証面における製造者の責任は重くなっています。その中で製品に発生する異物に関するトラブルは非常に多く、補償による多額の賠償や社会風評でのイメージダウンといった社運を左右しかねない問題に発展するケースもあります。このような異物は早急に特定し、原因を追究し対策をとらなくてはなりません。

　本セミナーでは多種の業種（化学，電気，機械，食品，建築，医療など）における異物問題を解決するため、発生原因や異物の測定手段、微小物のサンプリング、前処理法等の異物分析デザインを構築することに主を置きます。品質管理や異物分析を担当されている方々を対象として、主にＦＴ－ＩＲを用いた異物分析事例をできる限り取り入れて説明いたします。
 

【プログラム】

１．異物とは

２．異物の分析方法

３．異物の前処理法

４．異物分析事例

５．スペクトル解析

６．まとめ、質疑応答

前処理によって得られるスペクトルがどのように変わるのかなど、実例を用いて説明するとともに、得られたデータに対するスペクトル検索のコツおよびスペクトルの読み方についてご紹介！

FT-IRによる不良解析・異物分析実例

～測定の注意点とスペクトル解析のコツ～

日時：2011年10月6日（木）　10：30～16：30

【講座のポイント】

　FT-IRを用いた不良解析・異物分析においてサンプリングなどの前処理は非常に重要であり、これを失敗すると、その後の解析を困難にしてしまう場合があります。また、試料の種類や状態により、正確な情報を得られなかったり、間違った分析結果を導いてしまう場合もあります。今回は、前処理によって得られるスペクトルがどのように変わるのかなど、実例を用いて説明するとともに、得られたデータに対するスペクトル検索のコツおよびスペクトルの読み方についてご紹介します。加えて複数機種を用いた多角的な不良解析事例も数例ご紹介します。
 

【プログラム】

１．不良解析とは？

　　1-1．クレーム品の種類
　　　　　異物、混合比、劣化
　　1-2．異物分析フローチャート

２．前処理方法

　　・試料の状態と対応
　　・サンプリングツール

３．異物分析の実例

　　3-1．マクロ分析(1回反射ATR法)の実例と注意点
　　　　　表面付着物、密着、ゴム試料の注意点
　　3-2．ミクロ分析(顕微分光法)の実例と注意点
　　　　　アパーチャ、焦点、ダイヤモンドセル、試料厚さ

４．スペクトルの解析について

　　4-1．混合物のスペクトル
　　4-2．差スペクトルの計算
　　4-3．スペクトル検索の条件設定

５．複数機種を用いた多角的な不良解析事例

６．異物実例ATRスペクトル集

【質疑応答・名刺交換・個別相談】

高性能、高機能、高信頼化を実現するための講座。適正に評価・解析するために目的に応じた最適な方法と本では得られない講師の経験に基づいた工夫とノウハウを公開する特別セミナー！

半導体材料、デバイスの透過電子顕微鏡（ＴＥＭ）技術による解析法の基礎と試料作製法のポイント

日時：2011年7月14日（木）　10：30～17：30

【受講対象】

・半導体（金属膜、絶縁膜などの半導体以外の電子材料含む）関連の材料の研究開発に従事している方で、これからTEM解析を始められる方
・デバイスの不良解析、故障解析、劣化解析などに従事している方で、TEM解析を始められた方
・分析メーカの方で、TEM分析を担当されている、若手・中堅のエンジニア、オペレータの方
 

【予備知識】

・TEMに関する一般的な知識
・結晶構造、結晶欠陥に関する基礎知識
 

【修得知識】

・EMを用いた各種観察手法に関する幅広い知識
・TEMを用いた欠陥評価手法に関する知識
・TEM試料の各種作製法の実際に関する知識およびノウハウ
 

【講師の言葉】

　ＬＳＩ、発光ダイオード、受光素子、高周波トランジスタなどの半導体デバイスは、社会、システム、産業の多岐にわたる分野において幅広く用いられている。これらのデバイスの高性能化、高機能化さらには高信頼化を実現するためには、デバイスの材料である各種半導体薄膜材料をはじめ、金属膜、絶縁膜材料の結晶性（不純物、欠陥、界面構造など）を詳細に分析・評価する必要がある。その最も重要な評価法の一つとして透過電子顕微鏡法(TEM)が広く用いられている。

　しかし、本方法を用いて、これらの材料を適正に評価・解析するためには、目的に応じた最適な評価・解析手法を用いる必要がある。また、TEM観察を行うには、15nmから0.2μmの薄い膜を作製する必要がある。そのため、試料薄片化をうまく行うためには、経験に基づいた、多くの工夫とノウハウがある。

　そこで、本セミナーでは、永年、Ⅲ－Ⅴ族化合物半導体薄膜およびデバイスのTEMによる解析に携わってきた専門家により、これからTEM解析を始める方や中堅の方にも、実用的なTEMの各種解析法や試料作製法の詳細を豊富な事例を挙げながら分かりやすく解説していただく。
 

【プログラム】

１．電子顕微鏡の構造と原理

２．透過電子顕微鏡による解析法

３．透過電子顕微鏡用試料作製法

４．質疑応答

スペクトルセンシング技術による信号解析方法！高分解能な信号解析技術を先取り、製品の飛躍的向上をはかろう！

１０万～１００億倍の精度向上が可能な信号解析方法とその応用

日時：2011年3月15日（火）　10：30～17：30

【受講対象】

・開発、技術、研究部署の若手担当者

・計測技術を応用する担当者

・金融・経済学、医用機器、通信工学などを担当する担当者

・個別相談も歓迎しますので、解析技術で問題を抱えておられるような方も対応させて頂きます。

【予備知識】

・初心者にも理解できるように随時補足しますので、特に必要ありません。

【習得知識】

・周期性を調べる技術とその体系的な知識

・最新の信号解析技術の利用法

・実践的な解析技術の進め方

【講師の言葉】

　講演者の研究室では、従来の信号解析技術に比べ、10万～100億倍以上の精度の向上が見込まれる新しい信号解析法を開発し、様々なセンサデバイスの総合的なセンシング能力や情報集積技術の飛躍的向上に資する信号解析技術の開発を行っています。工学系で広く利用されている信号解析技術には、高速フーリエ変換（FFT）があります。

　このFFTは、文字通りフーリエ変換の高速化を実現し、計測分野に大きな恩恵を与えてきました。しかし、周波数分解能と時間分解能を両立することは難しく、これまで分析窓長など様々な制約がありました。

　この問題を解決することによって、飛躍的に周波数分解能を向上させる信号解析技術を確立し、既存の分野における精度向上や、新しい分野への応用が見込めます。講演では、周期性に関する基本的な信号解析技術から、最新の超分解能信号解析技術やそれを用いた様々な応用事例などを、わかりやすく取り上げます。

【プログラム】

Ⅰ． 周期性に関する信号解析技術の基礎

　　１．フーリエ変換の基礎

　　　　ａ．周波数分解能

　　　　ｂ．音声などの非定常信号の解析

　　２．フーリエ変換の問題

　　　　ａ．分析窓に関する問題

　　　　ｂ．分析窓長に関する問題

　　３．多次元の波の表現

　　　　ａ．画像などの2次元の波

　　　　ｂ．動画における3次元の波

Ⅱ． 新しい超分解能の周波数解析

　　１．新しい信号解析技術の特徴

　　２．解析モデルの考え方

　　３．使用上の注意点

Ⅲ． 1次元信号の超分解能解析技術の解析事例

　　１．オーディオ機器やオーディオケーブルの品質解析

　　　　ａ．スピーカーの解析

　　　　ｂ．オーディオケーブルの解析

　　２．OCTによる高精細な生体の断層撮影技術紹介

　　３．周期性に着目した経済時系列の解析

　　　　ａ．日経平均株価の予測

　　　　ｂ．NASDAQの変動解析

Ⅳ． 多次元信号の超分解能解析技術解析事例

　　１．画像解析

　　　　ａ．符号化のための解析技術

　　　　ｂ．失われた空間の補間技術

　　２．動画解析

　　　　ａ．符号化のための解析技術

　　　　ｂ．動きに関する情報抽出

Ⅴ. まとめ・質疑応答

Ⅵ. 個別相談 (希望者のみ)

現代社会を支配する表面、界面の真の姿を明らかにする基礎から応用・活用までを事例を交えながら詳細に解説！

材料・プロセス開発のための表面・深さ方向分析技術

日時：2011年3月24日（木）　13：00～16：30

【講座のポイント】

　現代は、工業材料から半導体、医療分野まで、様々な材料やプロセスが研究開発され、実際に利用されている。それらは文字通り多種多様で多岐に亘っているが、共通するものとして「表面」がそのほとんど全てと関わっていると言って良い。そして、撥水性や反射など表面そのものが直接的に最終特性を左右するものはもちろん、薄膜や多層膜の形成など界面が関わるものもその根源は表面が関わっていると言える。すなわち、極論すれば現代技術は表面が支配しており、言い換えるなら、表面を支配できれば現代技術を支配できるとも表現できる。また、表面はもちろん、膜や界面、そして近年注目されている傾斜材料や複合材料など様々な新規材料においては深さ方向分析も欠くことはできない。

　本講演では、分かっているようで実はその奥は言葉とは裏腹に限りなく深い表面というものについての解説から、表面を支配する物性とコントロール、そして、その姿を明らかにするための分析評価技術と実際に分析する上での注意点やノウハウを詳細に解説する。また、表面に限らず、表面分析と一対を成す深さ方向分析、そして、その真の姿を知ることが極めて難しい界面を知ることや、研究開発の考え方や進め方についても実例を交えながら解説を行う。

【受講対象者レベル】

初心者から中・上級者まで分析部門の方はもちろん、研究部門の方、管理者の方にも役立つ基礎から応用、研究開発における分析活用とマネジメントまで解説

【プログラム】

１．表面とは？

２．表面に支配される現代社会

　　2-1　表面が支配するもの

　　2-2　表面を支配するには？

３．表面分析の分類

４．表面分析成功のキーポイント

　　4-1　表面分析のタブー

　　4-2　試料の取り扱い

　　4-3　表面分析の考え方

５．表面を知るための分析法とその特徴、活用法

　　5-1　組成を知る

　　5-2　構造を知る

　　5-3　形態を見る

　　5-4　物性を知る

　　5-5　その他

６．深さ方向分析

　　6-1　深さ方向分析のアプローチ

　　6-2　深さ方向分析の種類と特徴

　　6-3　深さ方向分析の考え方

　　6-4　界面分析

　　　　①　界面分析のイメージ

　　　　②　界面評価の重要性

　　　　③　界面の例と分類

７．研究開発と分析の考え方

　　7-1　状況確認

　　7-2　実験フローの検討

　　7-3　分析方法の検討

　　7-4　データから必要な情報を引き出す

　　7-5　ゴールに到達

８．分析事例

９．質疑応答

目的にあわせたSEMの最適化と最適な試料の準備など、より良い解析法のポイントを詳しく解説します！SEMの機能を最大限に引き出すためのSEMの使い方を修得する！

走査電子顕微鏡（SEM）の実践的利用法

日時：平成23年2月7日(月)　10:30～17:30

【受講対象】

・半導体プロセス（電極パターン、エッチング形状など）、エピタキシャル膜（表面モフォロジー、膜厚など）、トラブルシューティング（電極接点、破断部、腐食部など）、その他、無機物から有機物、医薬や生体、鉱石関連など。走査電子顕微鏡をこれから使う方、現在使っていてスキルアップを目指す方。 

【予備知識】

・特に必要ありません。

【修得知識】

・走査電子顕微鏡の原理を習得し、更に、電子と物質との相互作用を理解し走査電子顕微鏡の機能を最大限に引き出すことができるようになります。また、良い結果を得るためには、観察分析のための適切な試料が不可欠です。試料作製の基本的手法が理解できます。

【講師の言葉】

　走査電子顕微鏡は、光学顕微鏡で観察できる1,000倍程度の倍率を超えて、数10万倍での観察ができること、試料の形状を忠実に理解できるリアルな画像が得られること、試料を高い倍率で観察しながら、試料上の任意の位置に存在する元素を短時間で検出できること、などのユニークな特長があります。

　元素分析領域は、１～２ミクロン程度ですが、高性能FESEMによりサブミクロン領域の分析が可能になっています。この特長を活かして、ナノテクノロジー分野での研究開発から物作り現場での品質管理・故障解析のために広く使われています。観察のための試料準備は、多くの場合簡単で、初めて使う人でも光学顕微鏡を使う程度の技術で結果が得られることも、普及している理由です。

　しかし、最近の高性能走査電子顕微鏡が持っている性能を活かすためには、電子と試料との相互作用を理解し、観察・分析目的にあわせて走査電子顕微鏡を最適化し、最適な試料を準備する必要があります。

　このセミナーは、高性能走査電子顕微鏡を使いこなすための基本知識と、微細構造の観察法に加えて、微小領域の元素分析および結晶方位解析での、より良い解析法を習得できます。

【プログラム】

Ⅰ．ミクロを超えてナノの世界へ

　　１．肉眼から電子顕微鏡へ
　　２．種々の電子顕微鏡の原理・特徴
　　　　a．透過電子顕微鏡
　　　　b．走査電子顕微鏡
　　　　c．電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)
　　　　d．走査プローブ顕微鏡
　　　　e．蛍光X線分析装置

Ⅱ．走査電子顕微鏡の原理

　　１．走査電子顕微鏡で得られる情報
　　　　a．電子と物質との相互作用
　　　　b．二次電子像（表面形状）
　　　　c．三次元観察と測長
　　　　d．反射電子像（物質分布）
　　　　e．特性X線（元素分析　定性　定量　分布）
　　　　f．結晶方位
　　　　g．走査透過電子像（STEM）
　　２．走査電子顕微鏡の構造とその働き
　　　　a．電子銃（熱電子銃、電界放出形電子銃）
　　　　b．レンズ（コンデンサーレンズ、汎用対物レンズ、高分解能対レンズ）
　　　　c．検出器（二次電子検出器、反射電子検出器、エネルギーフィルタ）

Ⅲ．良い結果を得るための操作法

　　１．電子の電圧（加速電圧）の選択
　　２．試料照射電流の選択
　　３．非点収差の補正とフォーカス調整

Ⅳ．元素分析

　　１．X線の発生
　　　　a．電子と試料との相互作用
　　　　b．X線発生領域を小さくするには
　　２．X線の検出
　　　　a．エネルギー分散形X線分析装置(EDS)
　　　　b．波長分散形X線分析装置(WDS)
　　３．精度の高い分析のためのヒント
　　　　a．定性分析
　　　　b．定量分析
　　　　c．元素の分布（元素マップ）
　　　　d．より微少領域を分析する方法
　　　　e．元素分析のための資料作製

Ⅴ．結晶方位解析(EBSD)

　　１．チャネリングコントラスト（結晶方位によるコントラスト）
　　２．EBSDの原理
　　３．結晶方位解析例
　　４．結晶方位解析のための試料作製

Ⅵ．試料の準備

　　１．観察できるもの
　　２．試料作製の基礎
　　３．微粒子の分散とサンプリング法
　　４．断面作製(アルゴンイオンによる断面作製)
　　５．導電性コーティング

Ⅶ．質問　講演内容、および、各種試料の解析法などについて

平面や円形の表面における粗さ、狂いを減らそう！表面性状の基礎から粗さ、真円度等の測定法を身につけ、品質向上に活かそう！

表面性状の計測技術の基礎とそのポイント　～デモ付～

日時：平成23年1月21日(金)　10:30～17:30

【受講対象】

・設計、加工、測定、検査、品質管理の担当者

【修得知識】

・表面性状の表記や測定に関する基礎的な内容

・測定機や使用方法のポイント

【プログラム】

Ⅰ．幾何公差、表面性状の基礎

Ⅱ．表面粗さ

　　１．表面粗さ測定機

　　２．表面粗さの基礎と計測のポイント

Ⅲ．微細形状測定

　　１．微細形状測定機の紹介

　　２．微細形状測定の基礎と計測のポイント

Ⅳ．真円度測定

　　１．真円度測定機

　　２．真円度測定の基礎と計測のポイント

Ⅴ．座標測定

　　１．座標測定機

　　２．座標測定の基礎と計測のポイント

Ⅵ．質疑、応答

　　※小型の装置を持ち込み、デモ的に使用する予定です

解析手法としてよく使われる分散分析、回帰分析をExcelを使いながら学び、実験の計画と実務への応用に活かそう！

分散分析・回帰分析による実験データ解析と実験計画法の基礎講座　～1人1台PC実習付～

日時：平成22年12月9日 (木)　10：30～17：30

【受講対象】

・製造、医薬品、システムなどに関わる技術者、研究者
・これから統計を扱う方にも分かるように解説します。
 

【予備知識】

・Excelでの入力とグラフ作成ができること。
 

【習得知識】

・Excelによる分散分析の方法と結果の見方
・Excelによる回帰分析の方法と結果の見方
・実験の計画方法
 

【講師の言葉】

　実験データの解析は、どのような実験を行ったかに大きく左右されます。したがって、単に解析方法だけを学んでも意味がありません。解析方法はデータの収集方法と併せて学ぶ必要があります。

　本セミナーでは、解析方法だけでなく、実験計画法という観点から、データの収集方法も学びます。一方、解析方法としては、統計的方法で最も頻度の高い分散分析法と回帰分析法をExcelを使いながら学びます。
 

【プログラム】

１．実験計画法とは

２．統計的方法の基礎知識

３．分散分析

４．多重比較

５． 回帰分析

分散分析・回帰分析に関する書籍を配布いたします。

測定に必要な情報収集から前処理、最適な手法の選択、解析方法について、具体的事例を基にわかりやすく解説！

事例を中心とした異物混入の分析・原因解明技術　～　検出から異物分析、成分同定・原因解明までのフロー　～

日時：平成23年2月7日（月）　13:00～16:30

【講座のポイント】

◆各種製品・原材料中に混入する異物、その発生原因と防止策から、発生した場合の分析、原因解明までのフローまで広範な内容をカバーし、問題解決を支援します。

◆異物問題の全てについて、短時間で理解できます。製品検査、品質管理、分析・組成解析等を担当されている技術者の方、ならびに顧客相談窓口、営業の方にも役立つ内容です。

◆異物分析については、単なる技術的説明に止まらず、測定に必要な情報収集から前処理、最適な手法の選択、解析方法について、具体的事例を基にわかりやすく解説します。

◆セミナの最後に異物分析相談会を実施します。 異物混入でお困りのサンプル、写真等をお持ち下さい。その場で測定法のご提案、分析可否の判断、分析依頼についてのご相談などお受け致します。 

【プログラム】

１．なぜ異物は発生するのか？（被害防止拡大のために）

　　1-1 異物の定義・種類
　　1-2 異物発生事例および要因

２．異物の検知（見えない異物をどのように捕らえるか？）

　　2-1 光学顕微鏡、その他検知法
　　2-2 Ｘ線マイクロCT

３．検知した異物を分析する前に（情報収集）

　　3-1 異物の分野ごとの特徴

４．異物分析の前処理

　　4-1 異物の性状確認（簡易識別）
　　4-2 サンプリング

５．分析機器の原理・特徴および組み合わせ

　　5-1 EPMA、顕微IR、XRD、その他代表的手法

６．分析結果から正確な組成情報を得るには？

　　6-1 原因解明への道程

７．質疑応答「個別相談会」

　　※　個別相談会は、セミナー終了後にご希望の方を対象に行います。
　　※　受講者の方には、主催より事前に相談シートをお送りします。
　　※　１社あたりの相談時間は、受講者数により調整します。
　　※　相談される順番は、基本的にセミナー申込み順とします。

DSC装置で熱硬化型樹脂の化学反応を分析して硬化率と硬化挙動を、FT-IR装置を使って硬化率と硬化挙動を測定する方法を詳解！

DSC法／FT-IR法による化学反応型樹脂の硬化挙動解析と硬化率測定

日時：平成23年1月27日（木）　13:00～16:30

【講座のポイント】

　接着剤・封止材・塗料等の化学反応型樹脂の硬化程度は物性で評価する方法がありますが、安定した物性を得るためには化学反応にも着目して評価する必要があります。

　本講義の前半では、DSC装置で熱硬化型樹脂の化学反応を分析して硬化率と硬化挙動を測定する方法を紹介します。後半では、FT-IR装置を使って硬化率と硬化挙動を測定する方法を紹介します。どちらも、基礎的な技術を中心に解説するとともに、実際に測定する際の条件設定などで迷いやすい点や誤解しやすい点についても説明します。
 

【プログラム】

１．はじめに

２．DSC装置

　　2-1 装置概要
　　2-2 入力補償型
　　2-3 熱流束型

３．DSC装置による硬化率・硬化挙動測定

　　3-1 硬化物試料の硬化率
　　3-2 硬化過程における硬化率変化

４．DSC法の注意事項

　　4-1 差曲線計算の可否
　　4-2 開始点の明示
　　4-3 硬化時間‐硬化率曲線の誤解

５．FT-IR装置

　　5-1 装置概要
　　5-2 赤外吸収とは
　　5-3 単位について
　　5-4 透過率測定の誤解

６．FT-IR装置による硬化率測定原理

　　6-1 硬化反応による化学構造変化
　　6-2 硬化反応により変化する赤外吸収ピーク
　　6-3 内部標準ピークの選定
　　6-4 赤外吸収ピークの数値化方法
　　6-5 反応率と硬化率の違いとは
　　6-6 硬化率計算方法

７．FT-IR装置による硬化率測定手順

　　7-1 工程
　　7-2 試料膜厚の注意点
　　7-3 測定例

８．FT-IR装置による硬化挙動測定

９．まとめ

【質疑応答・名刺交換】

添加剤のブリード、白化、変色、表面荒れ、部分的なクラックなどの表面外観不良等、原因を解明した事例を多く取り上げ詳解！

高分子材料の表面外観不良の原因解析と対策

日時：平成23年1月25日（火）　10：30～16：30

【講座の趣旨】

　高分子材料は成形直後および経年使用時に異物混入、添加剤のブリード、白化、着色（黄変など）、表面荒れおよび部分的なクラックなどの表面外観不良による致命的な欠陥が発生する場合があり、クレームなど大きな問題となる。本セミナーでは高分子材料表面の外観不良原因を解明した事例を多く取り上げ解説する。
 

【プログラム】

１．表面・局所分析および局所分析の基礎と得られる情報

　　１．１　赤外分光法
　　１．２　ラマン分光法
　　１．３　Ｘ線光電子分光法
　　１．４　二次イオン質量分析
　　１．５　電子顕微鏡（ＳＥＭ，ＴＥＭ）
　　１．６　原子間力顕微鏡

２．表面・局所分析および局所分析の実際

　　２．１　異物分析
　　　　２．１．１　異物分析に使用される分析機器の概要
　　　　　　　　　　顕微ＦＴ－ＩＲ，顕微ラマン、ＳＥＭ－ＸＭＡなど
　　　　２．１．２　試料前処理方法
　　　　２．１．３　自動車材料中の異物分析事例
　　　　２．１．４　電気・電子材料中の異物分析事例
　　　　２．１．５　包装材料中の異物分析事例
　　　　２．１．６　異物発生要因の解明技術と製造現場へのアプローチ
　　２．２　ブリード、べたつきの分析
　　　　２．２．１　添加剤の配合技術とブリードアウトの基礎知識
　　　　２．２．２　添加剤配合、設計から見たブリードアウト対策
　　　　２．２．３　添加剤の構造制御とブリード現象の制御
　　　　２．２．４　酸化防止剤、紫外線吸収剤、光安定剤、帯電防止剤、難燃剤のブリードアウト対策
　　　　２．２．５　ブリード物の定性分析の実際
　　２．３　白化の分析
　　　　２．３．１　複合材料成形品に発生する外観不良
　　　　２．３．２　複合材料成形品の紫外線照射で発生する外観不良のモルフォロジー解析
　　　　２．３．３　複合材料成形品の熱処理で発生する外観不良
　　２．４　着色・変色の解析
　　　　２．４．１　高分子の着色・変色の原因
　　　　２．４．２　着色・変色の原因解明の困難さ
　　　　２．４．３　変色成分の分析指針
　　　　２．４．４　添加剤の構造変化による変色
　　　　２．４．５　高分子自身の構造変化による変色の分析例
　　　　２．４．６　色素の混入や脱落、蛍光増白剤消失による変色
　　　　２．４．７　カビ
　　　　２．４．８　変色問題の解決のために
　　２．５　表面荒れ
　　　　２．５．１　表面粗さと表面うねり
　　　　２．５．２　表面凹凸の測定手法
　　　　２．５．３　用途に合わせた測定手法の選択
　　　　　　ａ）接触式粗さ計　　ｂ）走査型レーザー顕微鏡　　ｃ）二光束・多重干渉顕微鏡
　　　　　　ｄ）３次元ＳＥＭ　　　ｅ）走査型プローブ顕微鏡
　　２．６　破壊・変形の解析
　　　　２．６．１　破壊原因とその解析法
　　　　２．６．２　一般的な破損破壊とは
　　　　２．６．３　破壊の種類と破壊要因および分析手段
　　　　２．６．４　変形原因とその解析法
　　　　２．６．５　残留応力
　　２・７　劣化・寿命の解析
　　　　２．７．１　劣化の種類
　　　　２．７．２　劣化の解析
　　　　２．７．３　生分解性の評価と解析
　　　　２．７．４　寿命の推定法

３．分析相談会

【質疑応答・名刺交換・個別相談】

表面塑性の要因や装置による分析方法、そこから得られた情報の把握方法を学び、機能向上やトラブル対応に活かそう！

表面分析の基礎と情報解析のポイント

日時：平成22年11月30日 （火）　10：30～17：30

【受講対象】

・薄膜の構造解析、摺動材料のトラブル対策などを対象とする技術者で、普段分析に携わらない方、その基礎を必要とする方も対象とする。

【修得知識】

・表面分析の意義、組成と機能の関係を理解する。
・分析法、情報の解析によりトラブルに適切に対処し、機能改善に寄与するために有用な知識を得られる。

【講師の言葉】

　薄膜材料、摺動材料など界面機能が重要な寄与をする場合、機能の精度が上がれば益々表面分析の重要性は増してくる。さらに、安定した機能と長寿命の材料が要求されると、その機構が十分に解明されなければならない。表面分析機器は、高価であるとともに操作性が、熟練を要する状態であったが、近年CPUと真空技術の発達によって著しく改善された。材料を扱ううえで、開発型技術者は表面分析技術を無視することはできなくなった。技術者は分析手段より得られる情報を正しく把握しなければならない。分析担当者に任せることでは不十分であり、目的に沿った情報を集め解析することは技術者の職責である。
　この講座では普段は分析を本業としない技術者が、分析技術を必要とし分析法を選択する場合の基礎知識、情報の特性を初歩レベルから解説する。トラブルに適切に対処し、機能改善に寄与するために、有用であろう。

【プログラム】

Ⅰ．はじめに

　　１．薄膜の機能と表面構造、組成
　　２．表面、界面は不純物の集積場所
　　３．薄膜物性の特殊性

Ⅱ．バルクの組成と表面組成

　　１．表面組成を決める要因
　　２．表面層の平衡組成
　　３．表面エネルギーの低下
　　４．表面偏析と元素移動
　　５．表面組成支配要因
　　　　ａ．温度勾配、不純物の種類と量、熱履歴、結晶粒界、欠陥、転位密度など
　　　　ｂ．積層構造の劣化とトラブル原因

Ⅲ．表面層の厚さと面積

　　１．薄膜特性と界面組成
　　２．表面層の厚さと物性

Ⅳ．表面を評価する手段と情報解析

　　・探査プローブ：問いかける手段
　　　　ａ．電子線の特徴
　　　　ｂ．X線の特徴
　　　　ｃ．イオン線の特徴
　　　　ｄ．必要情報と手段の選択

Ⅴ．装置の特徴と情報の性質、留意点

　　１．SEM
　　２．XMA
　　３．XPS
　　４．AES
　　５．SIMS
　　６．SPM
　　７．実例（装置の情報の使い方の実例）

樹脂開発研究において重要となる添加剤分析について、効率的な前処理方法や各分析手法の特徴、事例を含めたデータの見方まで詳しく解説！

高分子材料中添加剤の分析方法

日時：平成22年12月16日（木）　10：30～16：30

第１部　添加剤分析の前処理技術とＦＴ－ＩＲによる定性分析

【講座趣旨】

　各赤外分光法は高分子組成分析や高分子材料中の添加剤の定性分析に使用されており、質量分析法や核磁気共鳴法などとともに高分子分析法の中でも古くから用いられている代表的な分析法の一つである。

１．添加剤分析は樹脂開発研究において重要であるが、煩雑で難しい。本講座では基礎から実際の分析のノウハウを解説する。
２．添加剤分析の仕方を体系的に説明し、分析の進め方を分かり易く解説する。
３．定性分析の代表的な手法である赤外分光法についてスペクトル解釈のノウハウを説明する。
 

【プログラム】

１．プラスチック用添加剤の概要

　　1.1　プラスチック用添加剤の種類と効用
　　1.2　新しい添加剤および最近の傾向

２．添加剤分析の進め方

　　2.1　添加剤分析の意義
　　2.2　既知試料中の添加剤の定量分析法の指針
　　2.3　未知試料中の添加剤の定性分析の指針
　　2.4　添加剤分析の難しさ、および、分析のコツ

３．添加剤分析の要素技術の分類と使い方

　　3.1　前処理技術：溶媒抽出法、再沈法、熱脱着、その他
　　3.2　添加剤相互の分離技術：GC、HPLC、SFC、TLC、その他
　　3.3　グループ分けのための分離技術：カラムクロマト、固相抽出、その他
　　3.4　添加剤の定性・定量用分析技術：ＩＲ、ＵＶ、ＭＳ、PyGC、比色、その他
　　3.5　分離-定性用組み合わせ分析技術：LC-IR、GC-MS、LC-MS、その他

４．添加剤の種類別分析法の指針

　　4.1　特に分析が難しい添加剤：HALS、リン系酸化防止剤、カルボン酸塩
　　4.2　その他の各種添加剤
　　　　 酸化防止剤、紫外線吸収剤、光安定剤、帯電防止剤、
　　　　 難燃剤、スリップ剤、可塑剤、アンチブロッキング剤など

５．添加剤分析のための赤外吸収スペクトルの読み方

６．プラスチック製品中の添加剤の分析事例

７．成形品における添加剤の状態分析

　　7.1　表面濃度・ブリードの分析
　　7.2　相互作用の分析

８．ＦＤＡやポリ衛協申請のための添加剤分析

【質疑応答・名刺交換・個別相談】

第２部　熱脱着／熱分解GCおよびMALDI-MSによる樹脂中添加剤の直接分析

【講座趣旨】

　ゴム・プラスチック樹脂などの高分子材料中に微量に添加されている、光安定剤をはじめとする各種添加剤を、溶媒抽出などの煩雑な前処理を行うことなく、熱脱着あるいは熱分解ガスクロマトグラフィーやマトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法（MALDI-MS）などにより、迅速簡便かつ高感度に直接分析する技術について、具体例を紹介しながら概説する。
 

【プログラム】

１．高分子材料中添加剤の一般的な分析手法と問題点

２．熱脱着／熱分解ガスクロマログラフィーによる添加剤の直接分析

　　2.1　熱脱着／熱分解ガスクロマログラフィー（GC）とは？－原理と特徴－
　　2.2　熱脱着GCによるゴム中の可塑剤・老化防止剤の分析
　　2.3　熱脱着GCによる塗膜中光安定剤の分析
　　2.4　二段階熱脱着／熱分解GCによるゴム配合物の直接分析
　　2.5　反応熱脱着GCによる樹脂中の高分子光安定剤の直接分析
　　　　a）ヒンダードアミン系光安定剤（HALS）について
　　　　b）反応熱脱着GCとは－原理と特徴－
　　　　c）ポリプロピレン（PP）材料中の高分子HALSの直接定量分析
　　　　d）窒素リン検出器を用いた高感度化
　　　　e）紫外線照射に伴うPP中のHALSの挙動解析
　　　　f）無機系難燃剤を含むPP中の高分子HALSの分析

３．MALDI－MSによる樹脂中高分子HALSの直接分析

　　3.1 マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法（MALDI-MS）とは？－原理と特徴－
　　3.2 固体試料調製法を用いたMALDI-MSによるPP中の高分子HALSの直接分析
　　3.3 内部標準法を用いた定量分析
　　3.4 紫外線照射に伴うPP中のHALSの安定化挙動解析

【質疑応答・名刺交換・個別相談】

超液体中の粒子を正しく測定する方法を習得するとともに，粒子個数の統計的評価方法についても詳解する！

液中のパーティクル測定法

～　測定原理　測定装置　測定事例　～

日時：平成22年12月22日（水）　12：30～16：30

【習得できる知識】

液体中の粒子を正しく測定する方法を習得するとともに，粒子個数の統計的評価方法についても習得する。

【講座趣旨】

　液体中の粒子を測定する場合は，空気中の場合と比較して注意しなければならないことが多い。注意を怠ればその測定結果は大きく異なる。

　　ここでは，パーティクルカウンタの測定原理の概要を説明して，誤差要因と測定時の注意点を失敗事例とともに説明する。また，純水のように粒子個数が少ない場合，測定結果を統計的に評価する方法について説明する。

【プログラム】

１.パーティクルカウンタの測定原理

　　1-1粒子と光の相互作用
　　1-2粒径の校正
　　1-3粒子信号とノイズ(S/N)
　　1-4計数効率
　　1-5粒径分解能
　　1-6国際規格，国内規格について

２.測定誤差要因

　　2-1パーティクルカウンタに起因するもの
　　2-2測定方法に起因するもの

３.測定事例と注意点

　　3-1失敗した測定事例
　　3-2失敗した測定事例から得られるもの

４.測定結果の統計的評価方法

　　4-1純水の測定事例
　　4-2ポアソン分布
　　4-3測定事例への応用
　　4-4粒子個数の評価方法

【質疑応答・名刺交換】

粉体粒子を効果的に測るための講座！前処理条件などうまく使いこなすためのテクニックを身につけて研究・開発へ活かそう！

ガス吸着法・水銀圧入法による粉体粒子の比表面積・細孔分布・密度測定基礎講座
 

日時：平成22年11月18日（木）　10：30～17：30

【受講対象】

・基礎的な内容になるため粉体測定における初心者

・（電子材料、医薬品、半導体、触媒、塗料、化粧品、ナノテクノロジーなど関連企業の方）

【修得知識】

・ガス吸着法・水銀圧入法の測定および測定によって得られた結果の解析

【講師の言葉】

　近年において，ガス吸着法による比表面積測定装置は比表面積測定の主流と言える状況となっています。また細孔分布につきましてはガス吸着法と水銀圧入法によりマイクロ孔からマクロ孔まで測定することが可能で多種にわたる分野で必要とされています。しかし，測定装置や解析手法などについて，まとまった解説書やセミナー・講習会は少なく，知識や情報を得る機会はかなり限られています。

　そこで，今回は測定原理・測定技術の解説に加え，アプリケーションなど，幅広い内容について紹介します。さらには水銀圧入法で測定が可能なかさ密度・見かけ密度・気孔率測定についても解説し、水銀圧入法以外の密度測定法も紹介します。

【プログラム】

Ⅰ．比表面積・細孔分布とは

Ⅱ．ガス吸着法

　　１．ガス吸着法の測定原理

　　２．ガス吸着測定装置

　　３．ガス吸着法の測定のながれ

　　４．比表面積の解析方法

　　５．細孔分布の解析方法

　　６．アプリケーションデータの紹介

 Ⅲ．水銀圧入法

　　１．水銀圧入法の測定原理

　　２．水銀圧入法の測定のながれ

　　３．解析方法(細孔分布、密度、気孔率)

　　４．アプリケーションデータの紹介

　　５．ガス吸着法と水銀圧入法の比較

Ⅳ．乾式密度計(定容積膨張法)

　　１．密度とは

　　２．乾式密度計の測定原理

　　３．湿式との比較

　　４．アプリケーションデータの紹介

前処理によって得られるスペクトルがどのように変わるのかなど、実例を用いて紹介！！

FT-IRによる異物分析の実例とスペクトル解析のコツおよび複数機種を用いた多角的不良解析事例

日時：平成22年10月27日（水）　10：30～16：30

【講座のポイント】

　FT-IRによる異物分析において前処理方法は非常に重要であり、前処理を失敗すると、その後の定性を困難にしてしまう場合があります。そこで今回は、前処理によって得られるスペクトルがどのように変わるのかなど、実例を用いてご紹介し、得られたスペクトルについて検索のコツおよびスペクトルの読み方についてご紹介します。加えて複数機種を用いた多角的な不良解析事例も数例ご紹介します。

【プログラム】

１．異物分析とは？

　　1-1　クレーム品の分類

　　1-2　異物分析フローチャート

２．前処理方法

３．異物分析の実例

　　3-1　マクロ分析(1回反射ATR法)

　　3-2　ミクロ分析(顕微分光法)

４．スペクトルの解析について

　　4-1　混合物のスペクトル

　　4-2　差スペクトルの計算

　　4-3　スペクトル検索の条件設定

５．複数機種を用いた多角的な不良解析事例

６．異物実例ATRスペクトル集

【質疑応答・名刺交換】

歩留まりや信頼性を向上させるためのセミナー。マイクロアナリシス技術を演習により修得し、欠陥現象の具体的問題解決法に活かそう！

微小異物・微小欠陥問題の解決法　～演習付～

日時：平成22年　10月21日 (木)　10：30～17：00

【受講対象】

【予備知識】

【修得知識】

【講師の言葉】

【プログラム】

Ⅰ．はじめに

Ⅱ．微小異物、微小欠陥の分析法

Ⅲ．顕微赤外分光法（赤外顕微鏡）

Ⅳ．赤外イメージング

Ⅴ．マイクロサンプリング質量分析法

Ⅵ．演習（欠陥現象の解析法（異物と間違えられる）

Ⅶ．まとめ

表面分析を活用し、摩擦・摩耗・潤滑のトラブルの根本的対策が取れる特別セミナー!個別相談で、あなたが抱えている問題解決のヒントを提供いたします！

表面分析の基礎と摩擦・摩耗・潤滑のトラブル対策　～個別相談付～

共催：Ｒ＆Ｄ支援センター

日時：平成22年9月28日 (火)　10：30～17：30

【受講対象】

摩擦・摩耗・潤滑に関連する技術者
機械装置などの担当者、管理者
摩擦・摩耗・潤滑のトラブルに直面したことのある技術者
分析をあまり使ってこなかった分野の技術者
トライボロジーの基礎、レベルアップが必要な技術者

【予備知識】

特に必要ございません。

【修得知識】

表面分析法のもたらす情報
表面分析解析法
表面分析を活用したトラブル対策
摩擦・摩耗・潤滑に関するトラブル対策
今、抱えている問題に対する解決のヒント (個別相談)

【講師の言葉】

　機械装置のトラブルはほとんどが動く部分に発生する。接触面の摩擦摩耗潤滑に関するトラブルが多い。機械の精度、動きの精密化に伴うトラブルもしたがって複雑で多様である。
かつては経験と勘によって解決できた部分も機械の精度が益すにつれて、複雑怪奇となった。基礎的な解決策、トラブル解析が必要になった所以である。接触面のトライボロジー特性機能は表面分析、とくに極薄い層(nm)に深く関与するが、意外に表面分析法がトラブルの原因解析に使われる例はまだ少ない。
本講座では、近来急速に発達した表面分析法のもたらす情報を、基礎から解説しトラブル対策に活用することを目的とする。できる限り実用例をおりこみ、分析法をあまり使ってこなかった分野の技術者に利用できるよう解説する。

【プログラム】